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光谱反射薄膜测厚系统 型号:SR100
仪器简介:快速,易于使用,基于光谱反射,为高性价比薄膜或涂层测厚分析系统 广泛应用于: 半导体制造 (PR, Oxide, Nitride..) 液晶显示器(ITO, PR
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光谱反射薄膜测厚系统 型号:SR500
测5层 •以毫秒为单位收集反射光谱,传输和吸收光谱 •能够实时或在线测量薄膜的厚度或折射率 •系统配备了光学常数的综合数据库 •先进TFProbe软件允许用户对于每个薄膜分析,选择使用
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芯硅谷 数显测厚表
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芯硅谷 D6228 机械百分测厚表
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反射式膜厚测量仪FE-3000
反射式膜厚量测仪的产品特点完美对应紫外到近红外(190~1600nm)广波长范围。利用高分辨率传感器,可对应厚膜以及超厚膜样品类型:0.8~1mm利用非线性*小二乘法薄膜解析软件,可解析多层薄膜的膜
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卓立汉光透射、反射/吸收光谱测量系统
透射、反射/ 吸收率是光学元件(如光学材料、滤光片、镀膜等)与多种生活材料(玻璃、布料、汽车贴膜等)的重要光学特性指标,我公司ZLX-AS 系列 透射、反射/ 吸收光谱测量系统正是针对此应用
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薄膜太阳能电池材料光谱响应测量系统
薄膜太阳能电池材料光谱响应测量系统 ■ 光谱测量范围:200-1100nm ■ 测量重复性:≤3%(主要波长位置) ■ 光源:高稳定、高输出能量
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ATGX310系列_光学薄膜厚度测量仪
光学薄膜厚度测量系统,是利用薄膜反射光干涉的原理,对薄膜进行厚度测量及分析。它非常适合测量半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能、聚合物薄膜、眼镜等光学元件的膜厚测量。
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F40薄膜厚度测量仪
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F10-HC 薄膜厚度测量仪
以F20平台为基础所发展的F10-HC薄膜测量系统,能够快速的分析薄膜的反射光谱资料并提供测量厚度,加上F10-HC软件特有的先进模拟演算法的设计,能够在厚膜中测量单层与多层(例如:底漆或硬涂层等)。
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